NIDEC-READ GATS-7755 基板治具測試機
“High speed & accuracy inspection for Fine Pitch FC-CSP, Next-generation’s inspection system available for core-less substrate!” The GATS-7755 is a substrate inspection system with Double-table (shuttle style) which is suitable for batch inspection of mass-produced fine-pitch boards. The GATS-7755 tester can perform Open/Short inspection for MCM/MCP/BGA/CSP, etc. "實現細線路FC-CSP的高速高精度測試，新世代無芯基板電測設備登場！” GATS-7755基板測試機搭載雙測試檯面，適用於大批量生產的細間距板的批量檢測，實現對MCM / MCP / BGA / CSP等產品進行斷短路檢測。
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產品特色
- Double-table, Shuttle style. Aligning the board while performing inspection simultaneously. 雙載台工作模式，檯面A執行電測時檯面B同時開始光學對位，減少無效工時。
- ULTRA High Accuracy, Comprehensive alignment accuracy within 2.5μm. 超高精度， 總體對位精度達到±2.5μm。
- Standardized Universal Work Holder, Standardized work holder is installed (universal/dedicated). 搭載標準萬用載台， 自帶標準萬用載台，亦可搭配專用載台。
- Best for core-less substrate, Achieving testing 0.1mm board. 薄板測試能力優良，可實現0.1mm載板的測試。
- High speed inspection, Employing cable-less scanner boards, data processing speed increase. 高速檢查， 掃描功能卡與針盤直接連接，資料處理速度提升。
產品資訊
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原廠名稱
NIDEC-READ -
製程名稱
測試/檢查/品管篇 -
英文名稱
GATS-7755 Substrate Open/Leak automatic inspection system -
產品細目
測試機
